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http://ciatec.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1019/50| Sistema integral de control dinámico SICD: Un enfoque Híbrido para el cumplimiento de las especificaciones de calidad | |
| ROBERTO BAEZA SERRATO | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial | |
| Calidad Control de procesos industriales | |
| Históricamente se han empleado gráficos de control (GC) para supervisar la calidad de la producción de los procesos industriales. Un concepto relacionado a los GC es el índice de la capacidad del proceso (Cpk), el cual compara a los límites de especificación establecidos con el comportamiento del proceso. Un índice de capacidad del proceso menor que 1.33 se considera no aceptable, al tener una tasa de productos no conformes mayor a 64 ppm, debido a que el rango de los límites de especificación es inferior al producto 6. Normalmente esto se debe a valores grandes de, que pueden obtenerse paulatinamente en el tiempo o en un solo instante, constituyendo una causa especial detectable en los GC de rangos o de la desviación estándar. El uso de los GC para éste propósito tiene limitantes de operación, ya que sólo determina los momentos en el tiempo de la presencia de tales causas, pero no implica la corrección de sus efectos en la mala calidad, ni toma en cuenta el índice de la capacidad del proceso. En consecuencia, una forma alterna a los GC que permita lograr ajustes en el proceso de manufactura, durante la producción e incremente el índice de la capacidad de proceso resulta útil. En esta investigación se presenta un enfoque que posibilita esta situación, determinando “el qué y cómo” hacer los ajustes en el proceso en función de sus “salidas”. Se propone la integración de modelos estadísticos de regresión a un sistema integral de control dinámico de lazo cerrado (SICD). El funcionamiento del SICD se explica por el procesamiento de la “señal de error”, calculada por el propio sistema y reducida a través de un algoritmo de ajuste; este algoritmo incorpora una variable de compensación a un modelo de regresión lineal obtenido experimentalmente que representa al elemento controlador del sistema. El SICD aquí presentado fue validado por dinámica de sistemas, lo que permitió identificar las zonas de ajuste para construir el gráfico del SICD y al diseño | |
| 2012 | |
| Tesis de doctorado | |
| Estudiantes Investigadores Maestros | |
| ESPECIFICACIONES DE PROCESOS | |
| Aparece en las colecciones: | Ingeniería Industrial y de Manufactura |
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|---|---|---|---|---|
| Tesis SICD_Roberto Baeza_Dr.pdf | 3.8 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |